解析成像系統與雷射物理的極限邊界
解析成像系統解析度的物理邊界。透過優化數值孔徑 (NA) 與波長,我們挑戰奈米級的空間解析能力。
展示鏡頭對比度與空間頻率的響應模型。Optic-Logic 確保在極高空間頻率下仍保有優異的調製傳遞率。
解析不同脈衝寬度下能量與材料相互作用的熱擴散規律,為飛秒雷射冷加工提供理論支撐。
| 參數名稱 | 符號 | 典型值 | 單位 | 說明 |
|---|---|---|---|---|
| 阿貝數 | Vd | 20.5 - 95.0 | - | 衡量光學玻璃色散程度的關鍵指標 |
| 表面粗糙度 | Ra | < 0.5 | nm | 超精密拋光後的均方根粗糙度 |
| 脈衝能量 | Ep | 0.1 - 500 | mJ | 單個雷射脈衝所攜帶的能量 |
| 折射率精度 | Δn | ±10⁻⁶ | - | 材料光學性質的一致性控制 |
| 波前畸變 | PV | < λ/20 | - | 系統輸出波前的峰谷值誤差 |